日本新光AF-220E精密電子分析天平

產品簡介

日本新光AF-220E精密電子分析天平：量程220g,精度0.1mg，稱盤尺寸為∮80mm，具自動偵測零點、水平位置及溫度功能，以確保秤重準確；特殊拉門設計,多種開關選擇；

產品型號：AF-220E精密電子分析天平

更新時間：2017-07-19

廠商性質：代理商

訪問量：1500

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日本新光AF-220E精密電子分析天平

AF-220E精密電子分析天平日本新光

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產品說明：

● 具自動偵測零點、水平位置及溫度功能，以確保秤重準確；

● 特殊拉門設計,多種開關選擇

1. 防風罩兩側也拉門式設計, 皆可開、關（一手拿秤物時, 另一手可以拉開防風罩, 非常方便）；

2. 防風罩及秤盤都是組合式, 可拆卸；

3. 玻璃內面, 秤盤計量皿皆可以清潔；

4. 沒軌道的設計,不易留灰塵或粉末；

附加：AF-（R）內藏校正砝碼，具有自動校正功能，「CAL」鍵ONE TOUCH自動校正，接上印表機即可列印校正紀錄及SPAN TEST, 可顯示日期、時間等。亦可保存歷史紀錄。

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